'아이폰 듀오' 분해해보니 힌지 '시한폭탄'…크랙게이트 원인 밝혀졌나

[MOVIEW] 아이픽스잇 "아이폰 듀오 파손, 힌지 압력 집중 탓"

[디지털데일리 김문기 기자] 글로벌 출시 직후 전 세계적인 화면 파손 논란에 휩싸인 애플의 첫 폴더블 스마트폰 '아이폰 듀오(iPhone Duo)'의 결함 원인이 힌지 특정 부위의 '구조적 압력 집중'과 '가동 레일 이상 돌출' 때문일 수 있다는 분석이 나왔다.

글로벌 전자기기 분해 전문 사이트 아이픽스잇(iFixit)이 정밀 분해와 CT 스캔을 거쳐 파손 지점과 힌지 내부 메커니즘 간의 직접적인 상관관계를 지목하면서 '치명적 설계 결함' 의혹은 짙어지는 양상이다.

25일(현지시간) 아이픽스잇은 분해팀은 특수 형광 분진 테스트, CT 단층 촬영, 특허 자료 및 분해 영상을 종합한 '3D 힌지 모델'을 구축해 전 세계에서 보고된 파손 위치를 대조 분석한 결과를 공개했다.

이번 테스트 결과, 화면에 금이 가고 픽셀이 죽은 결함 부위는 디스플레이 아코디언 플렉스 케이블 통과 구간과 중앙 힌지 지지대 사이의 전환 지점과 정확히 일치했다는 것. 여러 부품의 모서리가 맞물리며 화면이 접힐 때 지지 방식이 급변하는 곳으로, 반복 폴딩 시 물리적 응력이 특정 지점에 극단적으로 쏠리는 취약 구조라는 설명이다.

아이픽스잇은 화면 중심축을 따라 움직이는 곡면 레일(Curved rails)의 오작동 가능성도 강력한 파손 요인으로 꼽았다. 기기가 닫힐 때 힌지의 평평한 지지 플레이트 위로 곡면 레일이 비정상적으로 들려 올라오는 현상이 포착됐으며, 이 레일의 위치가 실구매자들의 파손 라인과 완벽히 맞아떨어진다는 분석이다. 접힐 때 수축해야 할 내부 힌지 부품이 제자리로 들어가지 못하고 얇은 10개 층의 디스플레이 패널을 아래에서 위로 밀어내며 균열을 일으켰을 가능성이 크다는 지적이다.

외부 이물질 유입에 따른 내부 간섭 위험도 확인됐다. 아이픽스잇의 분진 침투 실험 결과 본체는 IP68 등급에 맞춰 방진 처리가 비교적 잘 유지됐으나, 힌지 구동부 틈새로 미세 먼지가 유입되면서 접을 때 '우지끈'거리는 마찰음이 발생했다. 앞서 테크 유튜버 제리릭에브리띵(JerryRigEverything)의 테스트에서도 힌지 틈으로 침투한 먼지가 기기를 닫힌 상태로 유지하는 자석 메커니즘을 마비시키는 등, 힌지 구동부가 모래나 미세 분진 환경에 취약한 것으로 드러났다.

다만 수리 용이성(Repairability) 측면에서는 접착제 박리 기술과 분해 설계를 앞세워 진일보했다는 평가를 받았다. 아이폰16에 도입됐던 전기 충격 방식의 배터리 분리 접착제를 채택해 배터리 탈거가 용이했으며, 아이폰8 이후 처음으로 단층 로직보드를 탑재해 두께를 줄이면서도 외부 디스플레이를 손상 없이 분리할 수 있도록 설계됐다. 아이픽스잇은 힌지와 내부 디스플레이의 취약성을 지적하면서도 아이폰 듀오에 10점 만점 중 5점의 잠정 수리 점수를 매겼다. 이는 갤럭시 Z 폴드 8과 픽셀 11 프로 폴드가 기록한 4점을 근소하게 앞서는 수치다.