제이스, '차세대 고속 메모리 측정 VIP 초청 세미나' 성황

고객사 “실제 개발에 바로 적용 가능한 인사이트 얻었다” 호평

전자 계측 솔루션 전문기업 제이스는 지난달 26일 경기 성남시 판교 코트야드 메리어트 호텔에서 '인트로스펙트와 함께하는 VIP 초청 세미나'를 개최해 고객의 큰 호응을 얻었다고 2일 밝혔다.

이번 세미나는 LPDDR6, 고대역폭메모리(HBM) 등 차세대 고속 메모리 인터페이스 환경에서의 측정 및 검증 기술을 주제로 반도체 및 전자기기 개발 엔지니어 등 주요 고객사를 대상으로 한 초청 행사로 마련됐다.

제이스는 지난달 26일 경기 성남시 판교 코트야드 메리어트 호텔에서 '인트로스펙트와 함께하는 VIP 초청 세미나'를 개최했다.

행사는 △고속 메모리 인터페이스 설계 트렌드 △신호 무결성(SI) 테스트 △LPDDR 프로토콜 모니터링 △PHY 레벨 검증 등으로 구성됐으며, 특히 라이브 데모 중심의 발표가 이어지며 실제 측정 환경에서의 적용 가능성을 강조했다.

인트로스펙트 테크놀로지(Introspect Technology)의 최고경영자(CEO)인 모하메드 하페드 박사가 직접 연사로 참여해 고속 인터페이스 분석 기술의 최신 동향과 함께 자사의 측정 솔루션을 소개했다. 하페드 박사는 “차세대 메모리 측정 인터페이스에서는 신호 무결성을 유지하면서 정확한 데이터를 확보하는 것이 핵심 과제”라고 설명했다.

현장에 참석한 고객사 관계자들은 실질적인 기술 적용 가능성에 대해 높은 만족도를 나타냈다.

국내 반도체 기업의 한 엔지니어는“LPDDR6 및 HBM과 같은 차세대 메모리 환경에서의 측정 방식에 대해 구체적으로 이해할 수 있었다”며“특히 신호무결성(Signal Integrity)측면에서 훌륭한 인터포저 기반 측정과 프로토콜 분석을 결합한 접근 방식은 실제 개발 과정에서 바로 활용할 수 있는 수준의 인사이트를 제공했다”고 평가했다.

또 다른 전자기기 개발업체 관계자는“이론 중심이 아닌 라이브 데모를 통해 신호 측정 결과를 직접 확인할 수 있어 신뢰도가 높았다”며“기존 측정 방식에서 겪던 신호 왜곡 문제를 해결할 수 있는 방향성을 확인할 수 있었다”고 말했다.

이번 세미나에서는 인트로스펙트의 인터포저 및 프로토콜 분석 장비를 활용해 LPDDR6, HBM 등 고속 메모리에서도 신호 손상 없이 정밀 분석이 가능한 기술이 소개되며 큰 관심을 모았다.

제이스 관계자는 “고속 메모리 기술이 진화할수록 측정 난이도도 함께 높아지고 있다”며 “앞으로도 고객들이 실제 개발 환경에서 겪는 문제를 해결할 수 있도록 실질적인 기술 중심의 세미나를 지속적으로 확대하겠다”고 밝혔다.

한편, 제이스는 고속 인터페이스 및 신호 무결성 분야에서 꾸준한 투자를 통해 다양한 계측 장비와 통합 솔루션을 제공하고 있다.

이경민 기자 kmlee@etnews.com