한관영 단국대 교수, 나노박막 표면 고속 측정 장비 ‘세계 최초’ 개발

한관영 단국대 교수(오른쪽 첫 번째)와 개발에 참여한 연구진. 단국대 제공

 

한관영 단국대 전자전기공학부 교수(공과대학장)가 디스플레이 나노박막 표면의 불량 여부를 빠르게 측정하는 장비를 세계 최초로 개발했다.

22일 단국대에 따르면 한 교수의 장비는 ㈜파웰 코포레이션의 지원을 받아 디스플레이 기판의 나노박막 표면을 고해상도 카메라로 촬영한 후 각 표면의 에너지를 측정하도록 설계됐다.

표면에 나노박막을 입히는 통상의 디스플레이 처리 과정을 확인할 때 기존에는 투과전자현미경, 원자 및 주사전자현미경 등으로 표면의 증착 정도를 판별해 왔다.

이 같은 방식이 불량 여부 확인이 오래 걸리는 데다 정량 측정이 어렵다는 한계가 뚜렷한 상황에서, 이번 장비는 단시간 내 불량 여부 판독이 가능해 비용손실 감소 및 생산성 향상에 크게 기여할 전망이다.

한편 한 교수는 지난해 12월 세계 3대 정보디스플레이 컨퍼런스 가운데 하나인 일본의 IDW에서 연구성과를 발표했다. 이어 핵심특허 출원 신청을 마친 상태다. 또 오는 5월 미국에서 열리는 세계 최고 권위의 디스플레이 행사인 SID에서도 관련 기술을 선보인다.

한관영 교수는 “디스플레이의 빠른 변천과 제품의 고도화에 발맞춰 평가기술이 개발되지 못해 개발과 양산 자재의 손실비가 날로 커지는 상황을 개선하고 싶었다”며 “이와 연계해서 AR, VR 광학계 연구와 검사기술 개발 및 마이크로 LED 전사와 재생 등 응용기술 개발도 연이어 진행할 예정”이라고 밝혔다.

강한수 기자 hskang@kyeonggi.com
송상호 기자 ssho@kyeonggi.com