단국대 “디스플레이 나노박막 불량 고속 확인 장비 개발”

한관영 전자전기공학부 교수 연구팀…“8인치 디스플레이 전 면적 40초 이내 측정”

디스플레이 나노박막 표면의 불량 여부를 고속으로 측정할 수 있는 장비를 세계 최초로 개발한 단국대 한관영 전자전기공학부 교수 연구팀. 단국대 제공

경기 용인소재 단국대학교는 한관영 전자전기공학부 교수 연구팀이 디스플레이 나노박막 표면의 불량 여부를 고속으로 측정할 수 있는 장비를 세계 최초로 개발했다고 22일 밝혔다.

휴대전화 등 전자기기 등에 쓰이는 디스플레이는 제조 시 표면에 20~40㎚ 두께의 나노박막을 입혀 매끄럽게 처리하는 작업을 거친다.

이때 나노박막의 불량 여부를 확인하기 위해 투과 전자현미경, 원자 및 주사전자 현미경 등을 활용해왔지만, 시간이 오래 걸리고 정량적인 측정이 어렵다는 한계가 있었다.

폴더블 및 플렉시블 디스플레이는 양면 접착이 가능한 OCA(광학용투명접착필름)를 사용해 여러 시트층을 붙이는 제조 과정을 거치는데, 제품이 접히는 부분에서 들뜸 현상이 발생해 시트 전체를 폐기하는 경우도 많았다.

연구팀은 디스플레이 기판의 나노박막 표면을 고해상도 카메라로 촬영한 후 각 표면의 에너지를 측정해 불량 여부를 판별하는 장비를 개발했다.

연구팀은 이 장비를 활용하면 8인치 디스플레이 전 면적을 40초 이내로 측정할 수 있다고 밝혔다.

한 교수는 “해당 장비를 통해 나노박막 필름의 불량 여부를 사전에 검사한다면 비용 손실을 줄이고 생산성을 높이는 데 크게 기여할 것”이라고 밝혔다.

이번 연구 성과는 지난해 12월 세계 3대 정보 디스플레이 콘퍼런스 중 하나인 일본의 IDW(Information Display Workshops)에서 발표됐으며,핵심 특허 출원 신청을 마친 상태다.

한편, 오는 5월 미국에서 열리는 디스플레이 행사인 SID(Society for Information Display)에서도 관련 기술을 선보일 예정이다.

신동원 기자