삼성파운드리, 키사이트 노이즈 분석기 채택

제공:키사이트

키사이트테크놀로지스가 삼성 파운드리에서 반도체 디바이스의 플리커 노이즈(1/f 노이즈)와 랜덤 텔레그래프 노이즈(RTN)를 측정 및 분석하기 위해 키사이트의 E4727B 고급 저주파수 노이즈 분석기(A-LFNA)를 채택했다고 1일 밝혔다.

실리콘 제조업체의 첨단 기술을 목표로 하는 삼성 파운드리 고객들은 가장 정확한 A-LFNA 데이터 기반 시뮬레이션 모델을 포함하는 프로세스 설계 키트(PDK)를 통해 무선 주파수(RF) 및 아날로그 회로를 설계 및 검증할 수 있다.

키사이트의 E4727B A-LFNA는 반도체 디바이스의 저주파수 노이즈를 측정하는 턴키 솔루션이다. PathWave A-LFNA 측정 및 프로그래밍 소프트웨어는 PathWave WaferPro(WaferPro Express) 측정 플랫폼을 기반으로 만들어졌다. 엔지니어는 유연하고 확장 가능한 측정 시스템에서 전체 웨이퍼 레벨 디바이스 특성화 워크플로를 관리하고 자동화할 수 있다. 그다음 엔지니어들이 시스템의 측정 데이터를 키사이트의 PathWave 디바이스 모델링(IC-CAP) 및 PathWave 모델 빌더(MBP) 소프트웨어로 가져와 PDK 개발을 위한 디바이스 모델을 추출하면 아주 정확한 RF 및 아날로그 저노이즈 회로 설계 및 시뮬레이션이 가능하다.

이형진 삼성 파운드리 기술부문 마스터는 "우리는 신중한 기술 평가 끝에 키사이트의 E4727B A-LFNA로 디바이스 측정 품질, 효율성, 확장성을 개선하기로 결정했다"며 "정확하고 빠른 A-LFNA의 측정 기능을 통해 PDK를 더 빠르게 출시해 고객의 설계 주기를 가속화할 수 있다"고 전했다.

한편, 삼성 파운드리는 주요 반도체 파운드리로 첨단 프로세스 기술, 검증된 IP, 설계 서비스 솔루션을 포함해 최적화된 파운드리 솔루션을 제공한다.

전자신문인터넷 구교현 기자 kyo@etnews.com