큐알티, RF칩 신뢰성 테스트 특허 취득

김지웅 2022. 6. 27. 13:16
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큐알티가 '다채널 광대역 고주파 인가장치' 특허를 취득했다고 27일 밝혔다.

이 장치는 광대역 고주파 신호의 입출력, 전력 세기를 분석해 무선통신칩(RF) 신호를 정밀 입력한다.

RF 신호를 분석해 입력부, 증폭부, 출력부에 동일한 레벨로 전력을 제공해 다량의 RF칩 신뢰성 테스트를 할 수 있다.

큐알티는 해당 특허로 RF칩 고온동작수명시험(HTOL), 번인 테스트 등 반도체 수명을 분석하는 신뢰성 테스트에 활용한다.

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큐알티가 '다채널 광대역 고주파 인가장치' 특허를 취득했다고 27일 밝혔다. 이 장치는 광대역 고주파 신호의 입출력, 전력 세기를 분석해 무선통신칩(RF) 신호를 정밀 입력한다. RF 신호를 분석해 입력부, 증폭부, 출력부에 동일한 레벨로 전력을 제공해 다량의 RF칩 신뢰성 테스트를 할 수 있다.

큐알티는 해당 특허로 RF칩 고온동작수명시험(HTOL), 번인 테스트 등 반도체 수명을 분석하는 신뢰성 테스트에 활용한다. 또 추가 장치를 활용해 RF칩 기능 검사도 지원한다.

최영락 큐알티 제2연구소장은 “4차 산업혁명 시장이 확대되면서 첨단 기기에 탑재되는 RF칩의 중요성이 부각되고 있다”며 “글로벌 시장에서 경쟁력을 보유할 수 있도록 R&D 분야에 많은 투자와 도전을 지속해 나갈 것”이라고 말했다.

김지웅기자 jw0316@etnews.com

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