큐알티, 무선통신칩 신뢰성 테스트에 활용되는 특허 취득
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반도체 신뢰성 분석 기업 큐알티가 무선통신(RF) 칩 신뢰성 테스트에 활용되는 특허를 획득했다.
해당 특허는 RF 소자의 ELFR(Early Life Failure Rate), HTOL(High Temperature Operating Life) 등 반도체 수명을 분석하는 신뢰성 테스트에 주로 활용되고 있다.
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[아이뉴스24 민혜정 기자] 반도체 신뢰성 분석 기업 큐알티가 무선통신(RF) 칩 신뢰성 테스트에 활용되는 특허를 획득했다.
큐알티는 '다채널 광대역 고주파인가장치' 특허를 취득했다고 27일 밝혔다.
'다채널 광대역 고주파인가장치'는 광대역 고주파 신호의 입출력과 전력 세기를 비교분석해 통신용 RF 신호를 정밀하게 입력해 주는 장치다.
RF 소자에 상이한 전력 레벨을 갖는 RF 신호를 분석해 입력부, 증폭부, 출력부에 자동적으로 동일한 레벨로 전력을 제공해 다량의 RF 소자 신뢰성 테스트가 가능하다.
해당 특허는 RF 소자의 ELFR(Early Life Failure Rate), HTOL(High Temperature Operating Life) 등 반도체 수명을 분석하는 신뢰성 테스트에 주로 활용되고 있다.
최영락 큐알티 제2연구소장은 "초고주파·광대역 RF 칩에 대한 기술 개발은 이미 완료됐지만 신뢰성 평가 인프라가 부족해 어려움을 겪고 있는 기업들이 많다"며 "국내 반도체 생태계가 기술적 측면에서도 세계 시장에서 경쟁력을 보유할 수 있도록 연구·개발(R&D) 분야에 많은 투자를 지속할 것"이라고 강조했다.
/민혜정 기자(hye555@inews24.com)▶네이버 채널에서 '아이뉴스24'를 구독해주세요.
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