반도체 등에 사용되는 박막시료 물성 측정하는 KRISS 첨단오페란도분석팀

[서울경제]

대전 유성구 한국표준과학연구원(KRISS)에서 소재융합측정연구소 첨단오페란도분석팀 연구원들이 엑스레이광전자분석기를 이용해 반도체, 실리콘, QLED 퀀텀닷 등에 사용되는 박막시료의 물성을 측정하고 있다. 오페란도측정분석, 광·전자 이미징, 나노바이오센싱, 극한측정기술, 스마트 소재·소자 기술 등 소재융합분야의 융복합 측정분석 기술 개발을 위해 학제 간 융합연구를 수행하고 있는 이 연구소의 목표는 현재의 측정분석기술 한계를 극복하고 인공지능기반 측정기술 플랫폼 개발 등을 통한 측정표준 패러다임 전환 선도다. 미래는 기술력이 곧 '안보'이자 '국격'이다. 이제 투자와 인식의 전환으로 대한민국이 '부국강병(富國强兵)'의 길로 첫걸음을 내디딜 때다./대전=오승현 기자

오승현 기자 story@sedaily.com